タングステンポリマーの放射線減衰能計算

放射線経路上で放射線レベルを初期値の半分に下げるために必要なシールド材料の厚さは、半値層としても知られる半値厚HVLと呼ばれます。この方法は、適正な遮蔽厚を見積もるための有効な手段として利用することができるが、半値層厚法によって遮蔽材料の厚さまたは既知の遮蔽層の厚さを見積もることは便利である。 ｎ半値層の厚さは、放射強度を１／２ ｎに減少させることができる。

タングステンの放射線の半値層は次の式で近似できます。 △1 / 2W = 0.482△1 / 2Al×A / Z ここで、Ａ、Ｚ−タングステンの原子量および原子番号；Δ１／２ Ａｌ - アルミニウムの半価層値；Δ１／２ Ｗ - タングステンの半価層の値。

＜タングステンポリマー放射線減衰能の計算において、タングステンポリマー遮蔽材料の厚さは、遮蔽層によって達成される総放射線減衰率に従って計算することができる。 式：K = e 0.693 d /Δ < 1/2 1/2 Ｋ：遮蔽層のベータ線の全減衰
Δ<1/2>：シールド材の半価層値 ｄ：遮蔽層の厚さ、半値層の厚さを材料の厚さに換算した後、材料の密度で除算したときの同じ半値層厚の単位。