钨聚合物辐射减弱能力计算

在处于辐射的路径上，使辐射水平减弱到它最初始值的一半所需要的屏蔽材料的厚度称为半值层厚度(Half-value Thickness HVL)，也被称为半值层。该法可作为一种估计合适屏蔽厚度的有效手段，由半值层厚度法求所需屏蔽材料的厚度或已知屏蔽层厚度估计屏蔽效果比较方便。 n个半值层厚度可使辐射强度减至1/2ⁿ。

辐射在钨中的半值层可通过下式换算近似得到： Δ_1/2W=0.482Δ_1/2Al×A/Z 式中，A,Z--钨的原子量及原子序数；Δ_1/2Al--在铝中的半值层值；Δ_1/2W--在钨中的半值层值。

在进行钨聚合物辐射减弱能力计算时，可根据要求屏蔽层达到的总的辐射减弱倍数计算钨聚合物屏蔽材料的厚度。 公式：K = e^{0.693 d / Δ_1/2} K：屏蔽层的β辐射总减弱倍数
Δ_1/2：该屏蔽材料的半值层值
d：屏蔽层厚度，其单位同半值层厚度，需要将半值层的质量厚度换算成材料的厚度时，再除以材料的密度即可得到。